韓國(guó)XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000測(cè)厚儀是一款快速、無(wú)損、準(zhǔn)確檢測(cè)鍍層厚度儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的鍍層厚度檢測(cè)，可以檢測(cè)如鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等，zui多一次可測(cè)五層。

應(yīng)用領(lǐng)域

X光電鍍層測(cè)厚儀主要是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于電子電器廠、精密五金公司、電鍍加工企業(yè)、以及電鍍產(chǎn)品來(lái)料檢測(cè)等。

X射線金屬鍍層測(cè)厚儀，X射線經(jīng)過(guò)鍍層界面，根據(jù)理論上同材質(zhì)無(wú)限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難（信號(hào)分不開）。測(cè)試鍍層厚度要考慮鍍層材質(zhì)和鍍層密度等因素，如果各因素都不確定是無(wú)法分析的。

韓國(guó)先鋒XRF2000 X射線金屬鍍層測(cè)厚儀

檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

儀器功能

全自動(dòng)臺(tái)面
 

自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
測(cè)量樣品高度不超過(guò)4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.04－35um

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間：10－30秒