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普賽斯PMST功率半導體器件igbt測試系統，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三...

半導體分立器件靜態測試系統集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等）的靜態參...

功率器件靜態測試機1700V/1000A集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導...

普賽斯1700V/1000A功率器件靜態測試設備，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN...

高電壓+大電流igbt模塊測試設備集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等）...

普賽斯igbt測試設備+igbt測試儀，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導...

GaN靜態參數測試設備集多種測量和分析功能一體，可精準測量功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等）的靜態參數，電壓可高達10...

SiC靜態參數測試設備3500V/6000A測試主機內部采用的電壓、電流測量單元，均采用多量程設計，測試精度為0.1%。其中，柵極-發射極，較大支持30V@10...

半導體分立器件靜態測試儀認準武漢生產廠家普賽斯儀表，普賽斯以自主研發為導向，深耕半導體測試領域，在I-V測試上積累了豐富的經驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、高...

普賽斯功率半導體參數分析儀，主要包括測試主機、測試線、測試夾具、電腦、上位機軟件，以及相關通訊、測試配件等構成。整套系統采用普賽斯自主開發的測試主機，內置多種規...

普賽斯大功率IGBT靜態參數測試系統集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（MOSFET、BJT、IGBT等）的靜態參數，具有高電壓和大電流...

普賽斯SiC|GaN第三代半導體靜態參數測試系統，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN...

普賽斯MOSFET|BJT靜態參數測試系統，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代...