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　　主要用途：
　　激光粒度分析儀是根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。

　　產(chǎn)品功能：
　　激光粒度儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機械和計算機技術(shù)，具有測量速度快、動態(tài)范圍大、操作簡便、重復(fù)性好等優(yōu)點，現(xiàn)已成為*zui流行的粒度測試儀器。
 

　　主要應(yīng)用領(lǐng)域：
　　l.各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、*、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
　　2.各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
　　3.其它粉體：如鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛稀⒏鞣N乳濁液等。

　　激光粒度儀的原理
　　激光粒度儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。

　　儀器系統(tǒng)的組成主要包括三部分
　　1)主機(光學(xué)元件)，標(biāo)志為MasterSizer 2000；主機用來收集測量樣品內(nèi)粒度大小的原始數(shù)據(jù)。
　　2)附件(進樣器)，標(biāo)識為Hydro 2000G(普通濕法)；附件*的目的就是將樣品分散混勻充分并傳送到主機以便于測量。
　　3)計算機和Malvern測量軟件；Malvern 軟件可定義、控制整個測量過程，并同時處理測量的粒度分布數(shù)據(jù)、顯示結(jié)果并打印報表。

　　常用的粒度測量方法
　　（1）篩分法
　　（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）
　　（3）電阻法（庫爾特顆粒計數(shù)器）
　　（4）顯微鏡（圖像）法
　　（5）電鏡法
　　（6）超聲波法
　　（7）透氣法
　　（8）激光衍射法

　　各種方法的優(yōu)缺點
　　篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點：不能用于40μm以細的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
　　顯微鏡法：優(yōu)點：簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點：速度慢、代表性差，無法測超細顆粒。
　　沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。 缺點：測試時間較長。
　　電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒總數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。 缺點：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴格的導(dǎo)電特性。
　　電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
　　超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。 缺點：分辨率較低。
　　透氣法：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。 缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。
　　激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進行在線測量和干法測量。 缺點：儀器造價較高但性能穩(wěn)定。