NanoMap-O三維非接觸光學表面輪廓儀基于白光干涉測量技術,可快速精確測量材料表面參數,像表面粗糙度,劃痕形貌,磨損深度、寬度和體積,臺階高度,薄膜厚度等。所有測量都是非接觸、非破壞的,而且無需制樣,無需真空,金屬非金屬均可,操作方便、直觀。
產品特性: 產品應用:
非接觸測量 薄膜厚度測量
成像質量在200萬像素之上 臺階高度測量
0.001nm的分辨率 表面粗糙度測量
nm到50mm的Z軸范圍 二維薄膜應力測量
XY掃描范圍達到150x150mm 平坦度或曲率測量
超高分辨率數字成像傳感器傳輸數據快 表面輪廓(缺陷、形貌等)呈現
大于15年的LED光源壽命 劃痕形貌,磨損深度、寬度和體積定量測量