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HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)

是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。HAST高壓加速老化試驗箱測試高加速老化測試機，一般用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等，若待測品是半導體，則用來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。

測試高加速老化測試機，HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。 隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也 相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用的壓力蒸煮鍋試驗方法。

HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)

產(chǎn)品特點

1.半導體芯片HAST，HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)采用較新優(yōu)化設計,美觀大方，做工精細

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)

3.大容量水箱,試驗時間長,全自動補水，試驗不中斷

4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號施加端了

5.采用觸摸屏，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內(nèi)達到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)

7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長

8.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據(jù)客戶不同需求定制專用HAST試驗設備（如: HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）

HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)可根據(jù)客戶產(chǎn)品定制專用產(chǎn)品架

滿足測試標準GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

溫度范圍：+105℃~+150℃