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Duma BeamOn光束質量分析儀系列

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公司名稱上海旭為光電科技有限公司
品牌
型號
所在地上海市
廠商性質其他
更新時間2024/6/25 11:58:34
訪問次數111

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公司介紹主營產品

上海旭為光電科技有限公司，是一家專業從事超快激光、自適應光學等領域相關產品的研發、引進、銷售、方案設計、組裝集成、技術服務的現代高科技企業。專注于光電領域的技術服務與產品經銷。公司致力于引進國外很具性與創新性的光電技術與可靠產品，為國內前沿的科研與工業領域提供優質的產品與服務。其代理品牌均處于相關領域的發展前沿，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、精密光學元件等，所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究與國防等。從事光電科技、機電科技、機械科技、電子科技、計算機科技領域內的技術開發、技術轉讓、技術咨詢、技術服務;機電設備、機械設備、通訊器材、電子產品、計算機軟件及輔助設備的銷售;從事貨物及技術的進出口業務。

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光柵紅外光譜儀

產品簡介在線詢價

以色列Duma公司成立于1989年，是一家主要致力于光電子檢測儀器市場的創新性產品開發公司。其開發的光束位置測量系統(Optical beam positioning)和光束準直系統(AngleMeter和AlignMeter)的產品在具有的度。目前Duma產品主要有以下幾個模塊：光束位置測試系統；光束準直測試系統；光束質量分析系統；多通道光功率計。

Duma BeamOn光束質量分析儀系列產品信息

產品型號	探測面積 Mm	光譜范圍 Nm	動態范圍	快門速度 s	幀頻 Hz	增益 dB	靈敏度	飽和密度 mW/cm2	損傷閾值 W/cm2
BeamOn	6.47x 4.83	UV: 190-1100 VIS: 350-1100 IR1310: 350-1310 IR1550: 1550+/-50	≤10e11	1/50-1/100000	25	6-60	0.5nW/cm2@633nm 1.5µW/cm2@1310nm 5µW/cm2@1550nm	1 (VIS/UV) 5 (IR1550)	50
BeamOn HR	6.47X4.83	VIS: 350 – 1310 IR: 1550±50	60dB	0.6s-1µs	15	1-23	5nW/cm2@633nm 60µW/mm2@1310nm 22µW/mm2@1550nm	2(VIS) 10(IR)	50
BeamOn2/3	8.5X6.35	350 – 1100nm	60dB	1/50-1/100000	25	6.0-14.4	40nW/cm2@633nm	0.1	50
BeamOn U3	11.34 x 7.13	350 - 1600	60dB	39μs - 20s	150	0-24	20 µW/mm2@633nm 2 W/mm2@1550nm	1	50
BeamOn 2	Best system for high resolution laser beam measurement, especially for focused beams.
BeamOn X	A cost-effective Beam profiler based on global shutter technology, combined with 1/1.8" detection area, and user-friendly sofTWare.
BeamOn WSR	Wide Spectral range 190nm to 1600nm CCD Beam Profiler
BeamOn LB	Beam Profiling from remote.
BeamOn LA	The BeamOn LA system is a beam diagnostics measurement system for real-time measurement of CW or Pulsed laser beams.

Duma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是一家專業從事激光光束自動化測量系統研發和生產的公司。其生產的光束質量分析儀產品類型豐富，功能全面。

提供了兩種技術的光束質量分析儀：CCD式（BeamOn系列）和刀口式（Beam Analyzer系列）。

CCD式光束質量分析儀：

高分辨率：

高分辨率激光光束質量分析儀（1.4M像素）帶有電動光學濾波輪組（軟件或者ActiveX控制）。具有12位的動態范圍，能對連續光和脈沖光的形狀，位置，功率等光束特性進行測量。USB2.0接口，Duma可提供一系列的測量配件，集成的電動濾波輪和三片衰減片，通過濾波輪軟件自動調節，可測量從nW到1W不同強度的激光。

技術：

Duma的CCD光束質量分析儀是一種既可以測量連續光也可以測量脈沖光的光束質量診斷設備。具備光束寬度，光束形狀，位置，功率，強度分布等多種參數測試能力。使用USB2.0數據且可以用軟件控制。通多控制衰減片的倍數多次測量，可以突破動態范圍的限制來精確測量大的動態范圍的激光束。這種技術可以測量相對于點1%的功率動態范圍分布，這種技術可測量功率密度點到最弱點。

亞微米：

亞微米級別光束質量分析儀為亞微米級別光斑提供了光束分析和圖形處理功能。主要應用于CD唱頭，激光二極管，唱頭透鏡和光學元件調整，小直徑光束，以及任何需要光束測量的系統。