XRF-2000測厚儀標準片校正片校準塊

MicropioneerXRF-2000:韓國微先鋒

韓國測厚儀標準片,校準片,校正塊

韓國XRF-2000測厚儀標準片

X光鍍層測厚儀標準片,X-RAY膜厚儀校正片,膜厚儀標準塊

標準片或校正片銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規格均可訂制，校準片均附帶證書、適合各種X射線鍍層測厚儀

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

X光鍍層測厚儀標準片,X-RAY膜厚儀校正片,膜厚儀標準塊

標準片或校正片銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規格均可訂制，校準片均附帶證書

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韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測厚儀

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等

合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等

MicropioneerXRF-2020電鍍測厚儀

XRF-2000測厚儀標準片校正片校準塊