WKL-702顆粒圖像分析儀適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。
測量范圍:1~3000微米
*大光學放大倍數:1600倍
*大分辨率:0.1微米/像素
準確性誤差:< ±3%(國家標準物質)
重復性偏差:< ±3%(國家標準物質)
數據輸出:周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間(D50)、有效粒徑(D10)、限定粒徑(D60、D30、D97)、個數長度平均徑、個數面積平均徑、個數體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數、曲率系數。
配置參數(配置1國產顯微鏡)(配置2進口顯微鏡)
三目生物顯微鏡:平場目鏡:10×、16×
消色差物鏡:4×、10×、40×、100× (油)
總放大倍數:40×-1600×
攝像機:300萬像素數字CCD(標準C接頭)